平行光路的薄膜透光率儀

LS116薄膜透光率儀，采用光源的平行光路及接收器聚光設計，分辨率為0.1%，精度優(yōu)于±1%，并符合CIE明視覺函數(shù)標準，是一款高精度光學透光率儀。其測量原理是采用可見光源照射被測物質，感應器分別探測光源的入射光強和透過被測物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率。

薄膜指的是一種輕而軟的透明薄片，一般是用塑料，橡膠等其他材料制成，例如尼龍薄膜，聚酯薄膜，復合薄膜等，這些薄膜被泛用于電子電器，機械，印刷等行業(yè)，可以使用LS116薄膜透光率儀來測量薄膜的透光率。

在使用LS116薄膜透光率儀時，可直接拿兩個探頭對準測量物兩邊的位置，兩個探頭即可自動吸合到一起，無需按鍵，儀器即可自動測量，透過率用百分數(shù)表示，如需保存當前的測試數(shù)據(jù)，按下儀器的“HODL”鍵即可儲存，儀器最多儲存9組測試數(shù)據(jù)。